型式：LK-G32 拡散反射：30 mm、正反射：23.5 mm 拡散反射：±5 mm、正反射：±4.5 mm 光源種類：赤色半導体レーザ 光源波長：655 nm (可視光)、クラス2 (JIS C6802) 光源出力：最大 0.95 mW スポット径：(基準距離にて) 約 30 m 直線性：±0.05 % of F.S. (F.S.=±5 mm)*2 繰り返し精度：0.05 m*3 サンプリング周期：20・50・100・200・500・1,000 s (6 段階可変) LED表示：測定中心付近：緑点灯、測定範囲内：橙点灯、測定範囲外：橙点滅 温度特性：0.01 % of F.S./℃ (F.S.=±5 mm) *1 サンプリング周期 20 s 時は拡散反射時 +1.8 mm (FAR 側) ～ -5 mm (NEAR 側)、正反射時 +1.6 mm (FAR 側) ～ -4.5 mm (NEAR 側) になります。 *2 標準対象物 (セラミック) を標準モードにて測定した場合の値。 *3 標準対象物 (SUS) を基準距離にて平均回数 4,096 回で測定した場合の値。 ※その他ﾒｰｶ-ﾎｰﾑﾍﾟ-ｼﾞにてご確認願います。
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